<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="https://community.cadence.com/cfs-file/__key/system/syndication/rss.xsl" media="screen"?><rss version="2.0" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/" xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"><channel><title>CadenceTECHTALK: 3D-ICインターポーザ―向けSignal Integrityソリューション</title><link>/cadence_blogs_8/b/pcbicjapan/posts/cadencetechtalk-3d-ic-signal-integrity</link><description>3D-IC設計では、熱や電力供給, シグナル・インテグリティ(SI)を早期に解析する必要があります。このCadenceTECHTALKでは、ヘテロジニアス・チップレットを解析するプロセスを紹介します。3D FEM抽出によって正確にモデル化されるシリコン設計データから始まる統合ワークフローについて学ぶことができます。

CadenceのプロダクトマネージャーのディレクターであるGary Lytle氏が、Cadence Multiphysics解析製品(Clarity, Celius, EMX Pl</description><dc:language>en-US</dc:language><generator>Telligent Community 12</generator></channel></rss>